熱場發射掃描式電子顯微鏡
JEOL JSM-7000F
管理辦法
一、目的
為維持本實驗室正常運作及發揮其最大功能,特訂定此管理辦法以供使用者依循。
二、儀器設備
1.儀器中文名稱:熱場發射掃描式電子顯微鏡
2.儀器英文名稱:Thermal Field Emission Scanning
Electron Microscope
3.儀器英文簡稱:FE-SEM
4.儀器設備說明:
¨ 儀器購置日期:2007年6月
¨ 儀器設備管理維護單位:國立中央大學地球科學系暨地球物理研究所
¨ 儀器放置地點:國立中央大學科學一館1樓 S106室
¨ 儀器設備負責教授:馬國鳳 教授
林殿順 助理教授
¨ 儀器操作技術人員:紀逸泰(basin@earth.ncu.edu.tw,03-4227151#65642)
¨ 儀器廠牌:JEOL(日本電子株式會社)
¨ 儀器型號:JSM-7000F
¨ 儀器主要規格
解析度 |
1.2 nm (30 kV), 3.0 nm (1 kV) |
倍率 |
×10 to ×650,000 |
加速電壓 |
0.5 kV~30 kV |
探測電流 |
10-12~2×10-7A |
電子槍型式 |
熱發射schottky型式 |
最大樣品 |
直徑35 mm × 高度4 mm |
試片載台 |
試片移動範圍:
X軸:70 mm
Y軸:50 mm
旋轉:360∘
Z軸:3.0 ~ 41.0 mm
傾斜角度:-5∘~+70∘ |
¨ 主要附件
能量分散式光譜儀(EDS):
廠牌/型號 |
OXFORD/INCA350 |
解析度 |
≤ 133 eV |
晶體偵測器 |
Si (Li) |
元素偵測範圍 |
B5 ~ U92 |
三、儀器簡介
本設備之最大放大倍率可達六十五萬倍,為高解析度場發射掃描式電子顯微鏡。電子槍為熱發射schottky型式,具高解析度及高擴充性之電子顯微鏡。本顯微鏡解析度高達1.2 nm (30 kV)、3.0 nm (1 kV),可直接觀察樣本二次電子影像(SEI)之表面形態。本顯微鏡同時配置有反射電子偵測器(Semiconductor Backscattered Electron Dectector)可提供分析樣本之成分(composition)與表面高程(topography)影像。另外並有微區元素能量分析儀(X-ray Energy Dispersive Spectrometer,EDS),可對樣本做進一步之微區元素成分定性及半定量分析工作。
四、服務項目
1. SEM:樣本表面之觀察及照相。
2. BEI:成分與表面高程影像之觀察及照相。
3. EDS:原子序5以上之元素的全能譜,單點分析、line profile及mapping。
五、機台開放時間
開放時段:每天分為二個時段,其開放時間表如下所示:
¨ 第一操作時段 09:30~12:00
¨ 第二操作時段 13:30~17:00
開放時段
星期 |
09:30~12:00 |
13:30~17:00 |
星期一 |
地科院 |
地科院 |
星期二 |
地科系 |
地科系 |
星期三 |
地科系 |
地科系 |
星期四 |
地科系 |
地科系 |
星期五 |
對外開放 |
對外開放 |
備註 |
|
六、申請使用辦法
本機台之使用分為委託操作及自行操作兩方式。
1.預約方式
¨ 請上國立中央大學地球科學系暨地球物理研究所網站下載申請表格(如附件一),填寫後繳交至地科系SEM實驗室技術員處。首次欲使用本儀器,請事先與技術人員接洽相關事宜。
n 非地科系(院)委託與自行操作者,須於二星期前預約。
n 地科系(院)委託與自行操作者,於每月底開放登記下月時段。
¨ 已完成預約若欲取消,請於操作前24小時通知,否則費用照計。
¨ 於預約時段內遲到半小時以上,則該預約視為放棄,由其他使用者替補,使用費照計。
2.樣品準備須知
¨ 試片之製作由使用者自理。
¨ 樣品需乾燥,在真空中無揮發性。在電子束照射下會分解或釋放氣體之樣品,因有礙必要之真空維持,恕不受理。
¨ 如為非金屬、粉體試體,請先做蒸鍍及固定處理。
¨ 本儀器拒絕受理含有毒性、腐蝕性、揮發性及低熔點等之試體。
¨ 樣品載台不外借,申請者可自行購買SEM載台,或提早前來準備黏製試片。
七、收費標準
地科系及地科院使用者不收費,其餘使用者收費標準如下。
項
目 說 明 |
計
費 方 式 說 明 |
營利事業單位 |
學術研究單位 |
備註 |
委託操作 |
自行操作 |
SEM |
900元/時 |
450元/時 |
300元/時 |
|
Sputter Coater |
250元/200秒 |
150元/200秒 |
100元/200秒+0.5元/秒 |
EDS |
900元/點
or
900元/小時 |
450元/點
or
450元/小時 |
300元/點
or
300元/小時 |
八、實驗室經費
SEM實驗室之收入納為地科系基金。SEM實驗室之維護、實驗室設備維修及耗材,由地科系經費支出。
九、自行操作機台訓練及檢定實施辦法
1.訓練內容:依照本儀器作業標準內容實施。
2.實習學員:同一訓練時段,最多二人為限。
3.非地科系(院)使用者:請直接與SEM實驗室技術員處接洽。
4.使用執照頒發辦法:
經檢定合格者才能自行操作FE-SEM。檢定步驟如下:
A:未曾操作過SEM者
n 須上訓練課程達25小時以上,且經過技術員認可(如附件二)。
n 參加過訓練課程後,須於兩個月內具6小時實習紀錄。
n
每月底向技術員申請資格檢定,含筆試及上機考試。
B:熟習SEM操作,但未曾使用本機台者
n 須上訓練課程達6小時以上,且經過技術員認可。
n 參加過訓練課程後,須於兩個月內具6小時實習紀錄。
n
每月底向技術員申請資格檢定,含筆試及上機考試。
十、儀器維護及提供檢測服務之人員
儀器維護等相關事宜的聯繫及檢測服務,由儀器負責教授指派專人擔任。
十一、其他相關規定
1.如對本設備有特別需求,可與管理者反應,經提報設備負責人同意後執行。
2.預約使用必須本人到場,若有責任歸屬問題,該時段預約者需負全責。
3.因故被取消使用資格者,須再通過檢定考核,才可恢復使用資格。
4.未經預約即自行操作,必須繳交三倍使用時間之金額,並永久取消該使用者資格。
5.未經許可私自帶走本實驗室任何物品者,提報指導教授與實驗室負責人另議懲處。
6.操作機台時必須詳實填寫使用記錄表,若機台發生異狀需詳實填寫狀況、初步應變措施並盡快通知管理者處理,若因延遲申報造成機台損毀,視為該使用者之責任。
7.使用者必須遵守操作規範(如操作手冊),不屬正常操作機台的行為一概禁止,如有不當使用之行為,將被停權三個月,若有毀損儀器將負修理賠償責任,並永久取消該使用者資格。
8.試片禁止使用混凝土、揮發性、油脂性,有破壞真空之試片,所有試片必須確保乾燥。若因試片準備不當造成真空系統污染,則永久取消該使用者資格,且提報指導教授與實驗室負責人另議懲處。
9.若有私下接受委託操作之行為而未登記者,合格使用者與委託者永久取消其使用資格,並提報其指導教授與實驗室負責人另議懲處。